Рубрика "Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника"

  1. Главная
  2. Рубрикатор
  3. Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника

Использование системы Comsol для моделирования процесса получения наночастиц в условиях метода испарения- конденсации

Авторы: Косушкин Виктор Григорьевич , Кузьмичева Анастасия Олеговна
Опубликовано в выпуске: СВ1/2018 (18) , 28.05.2018
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
источник тепла, закон Бера-Ламберта, лазерный луч, метод испарения-конденсации

Макромодели быстродействующего широкополосного операционного усилителя в САПР Qucs-S и OrCad

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Антипенко Олег Викторович
Опубликовано в выпуске: СВ1/2018 (18) , 28.05.2018
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
операционный усилитель, OrCAD, Qucs

Технология синтеза полиакрилонитрила. моделирование полимеризации в программе COMSOL

Авторы: Косушкин Виктор Григорьевич , Рыжиков Даниил Александрович
Опубликовано в выпуске: СВ1/2018 (18) , 28.05.2018
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
полимеризация, полузагрузочный реактор, ПАН, Полиакрилонитрил, синтез, моделирование

ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАВИСИМОСТИ МАТЕРИАЛА ДИЭЛЕКТРИКА КЕРАМИЧЕСКИХ ЧИП - КОНДЕНСАТОРОВ ОТ ПРИЛОЖЕННОГО НАПРЯЖЕНИЯ

Авторы: Лоскутов Сергей Александрович , Максимов Павел Андреевич , Хачев Дмитрий Валерьевич
Опубликовано в выпуске: СВ3/2017 (15) , 12.12.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
мостовой метод, методы измерения емкости, керамический чип-конденсатор, диэлектрическая проницаемость

ЗАВИСИМОСТЬ СТАБИЛЬНОСТИ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ОТ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИЕВОЙ СТРУКТУРЕ

Авторы: Безруков Александр Владимирович , Белоусова Екатерина Викторовна , Парамонов Виктор Васильевич
Опубликовано в выпуске: 3/2017 (14) , 29.10.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
напряжение смещения нуля, дефекты упаковки, линии скольжения, кремниевая структура, полупроводник, интегральная микросхема

МОДЕЛИРОВАНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ ЗАРЯДОВОГО СОСТОЯНИЯ МДП-СТРУКТУР В РЕЖИМЕ СИЛЬНОПОЛЕВОЙ ИНЖЕКЦИИ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ

Авторы: Романов Андрей Владимирович
Опубликовано в выпуске: 3/2017 (14) , 29.10.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
КМДП-ИМС, сильное электрическое поле, радиационное излучение, инжекция электронов, подзатворный диэлектрик, МДП-структура

ФИЗИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ АБРАЗИВНОГО ИЗНАШИВАНИЯ ДЕТАЛЕЙ МАШИН

Авторы: Мусохранов Марсель Владимирович
Опубликовано в выпуске: 3/2017 (14) , 29.10.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
энергетическое состояние, поверхность, износ, физические модели

ФИЗИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ МЕТАЛЛОВ

Авторы: Калмыков Вадим Владимирович , Мусохранов Марсель Владимирович
Опубликовано в выпуске: 3/2017 (14) , 29.10.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
физико-механические свойства, энергетическое состояние, поверхность, износ

ЗАЩИТА МИКРОСХЕМ ИЗГОТОВЛЕННЫХ ПО КМОП-ТЕХНОЛОГИИ ОТ ВОЗДЕЙСТВИЯ СТАТИЧЕСКОГО ЭЛЕКТРИЧЕСТВА

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Максимов Игорь Владимирович , Столяров Александр Алексеевич
Опубликовано в выпуске: СВ1/2017 (11) , 24.04.2017
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
статическое электричество, статический заряд, МОП-транзистор, КМОП-технология

КОРРЕКТИРОВКА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ РЕЖИМОВ ПОЛУЧЕНИЯ ПОДЗАТВОРНОГО ДИЭЛЕКТРИКА КМДП-ИС

Авторы: Андреев Владимир Викторович , Шмаков Андрей Николаевич
Опубликовано: 16.07.2016
Опубликовано в выпуске: 2/2016 (6)
Рубрика: Физика конденсированного состояния. Микро- и наноэлектроника
высокотемпературный отжиг, инжекция электронов, КМДП-ИС, подзатворный диэлектрик, МДП-структура
  • Страницы:
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

Новости

Ключевые слова

Полезные ресурсы
eLIBRARY.RU Наше издание в Научной Электронной Библиотеке eLIBRARY.RU
Публикационная активность журнала РИНЦ
Справочник по УДК Ресурс описывает универсальную десятичную классификацию (УДК)
Антиплагиат Система автоматической проверки текстов на наличие заимствований
МГТУ имени Н. Э. Баумана официальный сайт университета